? ? ? ?我們知道涂層測厚儀主要是用于測量物體表面涂層的厚度的，這種表面涂層是緊密吸附在物體表面的，兩者之間不存在空氣。在進行物體表面涂層的厚度時，涂層和物體表面的粗糙度都影響著涂層厚度測量的值，所以我們在測量涂層厚度時，要求物體和涂層表面都是平滑的。如果有一定的粗糙度，那么對于這個涂層的厚度測量時，我們需要進行多次測量，以盡可能的降低測量出現(xiàn)的偏差。對于涂層測厚儀的測量過程，有人會大發(fā)奇想，涂層測厚儀能否測量單一物體的厚度呢？
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涂層測厚儀產(chǎn)品

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? ? ? ?其實，就涂層測厚儀測量單一物體的厚度來說是可以實現(xiàn)的。即將這種單一物體放置某種Fe基物體表面，這兩種物體表面事先需要進行一定的處理，清除污物后使用夾具將單一物體與Fe物體表面夾緊。如此，便相當于這種單一物體成為了“涂層”。磁性法涂層測厚儀工作原理是，磁性法（F型測頭）當測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體會構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量磁阻變化可計算出覆蓋層的厚度。渦流法(N型測頭)就是利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上會產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小即可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。所以，從理論上來說，就算是單一物體表面與基體之間存在間隙、有空氣層，也不影響涂層測厚儀的工作，只是精度會有一些影響。

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? ? ? ?但是使用涂層測厚儀測量單一物體厚度時，對基體和單一物體或者是儀器來說都是有一定要求的。如果使用磁性法涂層測厚儀進行測量，此時的覆蓋層即單一物體應(yīng)該為非磁性覆蓋層，若同是磁性物體那么測量會失敗。如果使用渦流法涂層測厚儀進行測量時，此時的覆蓋層即單一物體應(yīng)該為任意絕緣涂層厚度，即“涂層”表面不會產(chǎn)生電渦流。除上述的兩個要求以外，還有兩個硬性要求，第一，這種被測量的單一物體上下表面均為平行且較為平滑的物體；第二，這種單一物體的最大厚度不能超過涂層測厚儀的測量范圍1250μm，考慮到可能會存在間隙，還要再薄一點。且如果是磁性測厚法最小厚度應(yīng)該為200μm，非磁性的為50μm以上才能夠測量出來。

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? ? ? ?總結(jié)：使用涂層測厚儀是可以測量單一物體的厚度的，但這種情況測量時測量過程較為復(fù)雜，且容易出現(xiàn)較大的偏差，而且還有著有使用限制。與其使用涂層測厚儀對單一物體厚度進行測量，還不如直接使用游標卡尺或者是測厚規(guī)、千分尺之類的機械式測量儀器對其進行測量。因為我們在實際測量過程中，效率也是重要的影響因素，不能南轅北轍。